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磁悬浮天平技术允许在高压和高温条件下通过使用电阻测量单元进行高分辨率的质量测定，—个工业用的微量天平位千测量单元外。 由千非接触式磁悬浮耦合， 可以确定压力测量单元内的质量变化。

测量时，永磁体将含样品的样品玵涡提起，然后通过高性能P|D控制器检测和控制提起实际位置。为了建立永磁体和测量样品的自由悬浮位置，电压被施加到测量池外部的电磁体上。从而在无接触的极端条件下测量样品质量。负载去耦然后允许减去被测量的物体重量以用千去皮重或校准相应的测量信号。 当这种去耦发生时，只有永磁体保持在悬浮位置（零点位置）。